InsightsRückstände auf elektronischen Baugruppen? FTIR-Mikroskopie zeigt, was wirklich dahintersteckt
Ob Flecken, Beläge oder Verfärbungen: Mit der FTIR-Mikroskopie analysieren wir gezielt kleinste Rückstände – und helfen Ihnen, die Ursache zu beheben.
FTIR Mikroskopie und SpektroskopieRückstände erkennen reicht nicht – sie zu verstehen ist entscheidend
Rückstände auf der Oberfläche elektronischer Baugruppen sind in der Praxis keine Seltenheit – doch ihre genaue Zusammensetzung bleibt häufig unklar. Gerade bei punktuellen Verfärbungen, Flecken oder Belägen reicht eine optische Untersuchung nicht aus, um die Ursache zuverlässig zu bestimmen.
Genau in diesen Fällen setzen wir auf die Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie (FTIR). Als leistungsstarke Analysetechnik ermöglicht sie die präzise Charakterisierung von Materialien auf Oberflächen und direkt an der betroffenen Stelle. Sie liefert damit wichtige Hinweise für die Bewertung und Einstufung der Rückstände, sowie sich daraus ergebende Abhilfemaßnahmen.
methodenwahlWann FTIR-Spektroskopie – und wann -Mikroskopie dabei entscheidend ist?
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Analyse von Pulver oder Flüssigkeiten
Hier ist die FTIR-Spektroskopie ein bewährtes Verfahren zur chemischen Analyse organischer Substanzen. -
Analyse von z.B. Rückständen oder Flecken auf Bauteilen
Hier ist FTIR-Mikroskopie die richtige Wahl. Sie ermöglicht eine zerstörungsfreie und ortsaufgelöste Messung auf der Baugruppenoberfläche.
FTIR-Mikroskopie
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Verfahren zur qualitativen und (halb)-quantitativen Analyse von organischen Rückständen an Oberflächen
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Analyse von Bereichen ≥ 5 x 5 μm.
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Identifizierung der chemischen Struktur von Verunreinigungen, Rückständen, Filmen, Partikeln etc.
aus der praxisRückstände gezielt analysieren – und klar bewerten
Rückstände auf Baugruppenoberflächen wie etwa Flussmittel und deren Nebenprodukte, Filme, Öle, Fasern oder partikuläre Verunreinigungen lassen sich mit der FTIR-Mikroskopie identifizieren und ihre möglichen Ursachen entsprechend eingrenzen. Ob im Rahmen einer Reklamation, bei Serienabweichungen oder zur Absicherung vor dem Serienstart – Sie erhalten präzise Ergebnisse für eine fundierte Ursachenbewertung.
ProblemVerfärbungen auf bestückter Leiterplatte
Ein Kunde bat unser Expertenteam um Unterstützung bei folgender Herausforderung:
01 | Ausgangssituation
Dünner flächiger Rückstand auf bestückter Leiterplatte.
02 | Kundenanfrage
Ziel war es, die Rückstände eindeutig zu identifizieren und deren potenzielle Auswirkungen auf die Funktionalität der Baugruppe zu bewerten.
03 | Unser Vorgehen
Eine rein visuelle Begutachtung war hier nicht ausreichend und zielführend, weswegen auf die ortsaufgelöste FTIR-Mikroskopie zurückgegriffen wurde.
Nach Evaluation des erhaltenen FTIR-Spektrums mit seinen spezifischen Banden als Hinweise auf funktionelle Gruppen und über den Abgleich mit bestehenden Referenzdaten aus unseren umfangreichen Datenbanken wurde die chemische Natur der Verbindung identifiziert.
(Bild: Vergrößerung des Rückstands und ortsaufgelöste Untersuchung mittels FTIR-Mikroskopie)
(Bild: IR-Spektren des Rückstands und einer Referenzstelle)
Die Analyse lieferte konkrete Hinweise zur chemischen Zusammensetzung des Rückstands und bildete damit die Grundlage für die weitere Ursachenklärung und Entwicklung spezifischer Abhilfemaßnahmen auf Kundenseite gemeinsam mit unserem Expertenteam der R&S.
Undefinierbare Rückstände oder Verfärbungen?Wie kann Zestron Sie unterstützen?
Analytik auf den Punkt gebracht
Die FTIR-Mikroskopie ermöglicht eine ortsaufgelöste Charakterisierung organischer Rückstände auf Oberflächen – zur gezielten Identifizierung von Substanzen direkt an der betroffenen Stelle.
Umfangreiche Referenzdatenbanken
Wir greifen auf eine Vielzahl an Datenbanken zurück und erweitern diese anhand unserer Kundenprojekte stetig, um schnell und sicher die passende Bewertung des Rückstands treffen zu können.
Verwertbare Ergebnisse – konkrete Abhilfe
Wir liefern Ihnen eine schnelle, nachvollziehbare Einschätzung zu Ihrer Problemstellung. Auf Wunsch unterstützen wir Sie auch bei der Bewertung der Ergebnisse und der Entwicklung konkreter Gegenmaßnahmen.
Rückstände oder ververfärbungen im Prozess?Wir unterstützen bei der Ursachenklärung
Wenn Rückstände oder Verfärbungen auf Baugruppen Fragen aufwerfen, zählt eine verlässliche analytische Grundlage. Die FTIR-Mikroskopie kann dabei helfen, unbekannte Substanzen gezielt zu identifizieren – direkt an der betroffenen Stelle, ohne aufwendige Probenvorbereitung.
Wir unterstützen Sie mit der passenden Analytik, wenn es um Rückstände, Prozesssicherheit oder Reklamationen geht.
whitepaper-collectionRückstände auf Baugruppen - Ursachen und Abhilfemaßnahmen
Weiße Flecken, Schlieren oder Lotperlen – sichtbare Rückstände können die Funktion elektronischer Baugruppen beeinträchtigen.
ieses Whitepaper zeigt typische Ursachen auf und gibt praxisnahe Empfehlungen zur Optimierung.
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